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中国泰尔实验室开展电波暗室静区反射电平检测业务
全电波暗室是天线测试的关键设施，其功能是构建一个多径反射水平较低的类自由空间环境，无论是远场测试系统还是球面近场测试系统、平面近场测试系统，电波暗室的静区反射电平都是反映场地质量的关键指标。
由于吸波材料和暗室结构的非理想效应，暗室中实际存在多径效应，特别是随着时间推移，吸波材料变形、错位、老化，暗室的静区反射电平指标是逐年变化的。近年来出现的天线实验室之间的检测一致性不足、测量结果可信度存在较大差异等问题，静区反射电平是重要内在原因。特别是，静区反射电平较大时，对天线测量中的前后比、旁瓣抑制比等测试准确度影响较大。
为改变这一现状，中国泰尔实验室牵头完成了行业标准YD/T 3182-2016《天线测量场地检测方法》，YD/T 2868-2015《移动通信系统无源天线测量方法》，对暗室静区反射电平指标进行了规范。同时，实验室开发了全自动的静区反射电平测试系统，可以在现场开展高质量的静区反射电平检测，检测结果角度分辨率和空间分辨率高，以静区尺度/静区反射电平数据曲线的形式呈现，客户可依据检测结果判断不同尺度下的反射电平，以评估测试不确定度。
此项检测认证于2017年通过CNAS认可，并可以出具CNAS检测报告，已经为国内多家检测实验室和天线制造企业开展了暗室静区反射电平检测。
联系人
张欣：18901066661（同微信号）
zhangxin1@caict.ac.cn
周峰：13693526540（同微信号）
zhoufeng@caict.ac.cn
孙景禄：18500319981（同微信号）
sunjinglu@caict.ac.cn
校 审 | 陈 力、 珊 珊
编 辑 | 凌 霄
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