7.18 北京丨物联网时代，如何玩转IC测试？

 

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活动背景

随着物联网时代的到来，IC的集成度越来越高，行业的不停整合和全球竞争也逐渐加剧，如何在这一时代下保证上市时间的同时降低测试成本，IC工程师面临前所未有的压力。而更加头疼的是，在实验室和量产测试中的ATE系统，使用传统的方法缺不能很好地进行扩展满足到当今IC产业不断变化的需求，在成本和上市时间上带来商业风险。设计很“丰满”，测试很“骨感”，如何玩转IC测试，NI教你如何面对这些问题！

时间地点

【时间】：2017年7月18日 9:00 ～ 2017年7月18日 16:00

【地点】：北京市海淀区创业大街昊海楼B1 – IC咖啡

活动日程

内容资源

NI的平台化方法下，最大化利用统一的平台提升实验室和量产测试的数据关联，打通从实验室到量产测试的鸿沟！降低测试成本，加快上市时间，将不再是难题！

在统一的平台下，NI模块化的仪器和开放灵活的软件是一切的基石，极广的信号覆盖（从DC到毫米波），顶级的射频及混合信号仪器，天然的并行测试特性，这样的高性能平台已经为全球范围内多家客户带来了福祉。

而NI为量产测试而打造的STS（半导体测试系统），对接行业标准，为量产测试添砖加瓦提升测试速度！

NI亲历打造面向半导体行业的终极武器，将在北京统一亮相！

About activities

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