7.26 无锡丨美国国家仪器NI：没有好测试，再牛的芯片也上不了市！

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引言

测试是IC设计的重要环节，精确的测试结果，快速的Debug方法，直接决定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡携手美国国家仪器National Instruments准备了一系列芯片测试的新玩法，带你玩转IC测试。

Digital IC、Analog IC、RF IC， 各位IC designer奋斗在设计一线，不断的设计出速度更快、功耗更低、面积更小的芯片。 每一次流片回来，高强度的测试任务，对于测试工程师及IC设计师来讲，都是最为心情跌宕起伏的时刻：仿真很“丰满”，测试很“骨感”。

无锡站

【时间】：2017年7月26日，13:30--17:00

【地点】：新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园F11栋创星咖啡(景贤路)

【费用】：免费

演讲主题

1

 

平台化方法降低IC测试成本及上市时间：

随着IC集成度日益提高，行业整合和全球竞争的加剧，IC工程师面临着巨大的开发成本和上市时间的压力。 不幸的是，实验室和量产测试中的ATE系统使用传统仪器的方法不能进行扩展满足到当今IC产业不断变化的需求，在成本和上市时间上带来商业风险。 在本演讲中，我们将介绍基于平台的方法是如何提升IC验证分析速度和测试设备性能，满足制造成本和可靠性的需求。

2

 

从实验室到量产——NI RFIC测试方案：

在此演讲中，将探讨基于PXI平台和矢量信号收发仪VST，您可以轻松应对当前复杂且技术更新很快的RFIC测试，以及NI平台如何打通从实验室到量产测试的RFIC测试方案。

3

 

解读构建SLT(System Level Test)的新软件架构：

随着IC集成度的巨大提升，SiP等的封装形式的出现也让测试变得越来越困难。在本演讲中，我们将讨论SLT测试的趋势和方法，并且如何用平台化方法构建SLT测试系统。

4

 

降低测试成本新方法——物联网蓝牙芯片产测解决之道：

在物联网时代，无线网络的要求不断推进无线标准的发展。事实上，低延迟、低功耗、高可靠性的技术要求最终推动了未来无线技术的发展方向。在本演讲中，我们将探讨最新兴的无线技术对IoT，移动和基础设施的设计和测试的影响，并且以低功耗蓝牙芯片量产测试为例，讨论针对应用于物联网芯片如何在量产测试中降低测试成本。

“ 

芯片设计工程师及部门主管

芯片测试工程师及部门主管

Verification 及 Qualification 部门工程师

其他IC业内人士

欢迎您的到来！

”

活动主办方

美国国家仪器

美国国家仪器，世界上最大领先的硬件电子测试测量仪器公司。提供丰富的工具软件，如LabVIEW，AWR，以及高性价比的模块化硬件，覆盖IC从研发到量产的全产业链测试与仿真需求。40多年来，美国国家仪器公司(NI)帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战，提供大量的软件，硬件，覆盖IC全产业链测试与仿真需求。在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今，NI为遍布全球各地的35,000家不同的客户提供多种应用选择，在RF芯片设计和测试方面具有丰富的经验和专业知识。

特别鸣谢协办单位

注

活动限半导体行业相关工作人员参加（限额80人），因主办方将进行人员筛选，请在下方阅读原文进行报名时认真填写报名信息，信息填写不完整及行业属性不相关者，不在邀请范围内，请悉知。入场请出示通知短信并携带名片。

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