胜科纳米牵头！第五届纳博会分析测试应用论坛邀您参会
半导体制造是人类迄今为止掌握的工业技术难度最高的生产环节，随着工艺的持续下探，其制造工序也越来越复杂，这意味着生产制造过程中出现问题的概率将进一步提高。分析测试就像是半导体制造流程中的“质检员”，严格把控每一阶段产品的质量。可以说分析测试是产品良率和成本管理的重要环节，某种程度上决定了产品能否按时量产并交付客户，在半导体制造过程有着举足轻重的地位。
自2018年首次亮相纳博会以来，分析测试应用论坛已经连续成功举办四届，得到了Thermo fisher、Bruker、牛津仪器、leical、日立、Zeiss、Tescan、PHI、EDAX、YXLON、Picosun等公司的大力支持。论坛每年吸引500余名纳米新材料与半导体领域的专业人士参会，反响热烈，成为分析检测领域专业人士的参会首选。
2022分析测试应用论坛
2022年10月27日，第五届纳博会分析测试应用论坛即将在苏州国际博览中心B1馆举办。会议以国际领先甚至独一无二的分析仪器为基础，依托科研人员独创性的分析方法与对仪器、产品、材料及工艺的深刻理解，为工业界解决实际生产过程中迫在眉睫或悬而未决的问题。
一
主办单位
胜科纳米（苏州）股份有限公司
中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所测试分析平台
苏州工业园区纳米技术产业促进中心
苏州纳米科技发展有限公司
中国半导体行业协会MEMS分会
二
会议议题
物理分析技术、表面/化学分析技术在材料表征、失效分析和质量保证中的应用
射频器件的可靠性和稳定性分析
先进封装和复杂芯片的故障分析方案
TEM、SEM&Nanoprobeing等高端试片制备技术发展及应用
集成电路及元器件失效分析和材料分析表征
车规芯片测试
Labless商业模式变革
三
参会对象
新材料、集成电路、半导体、电子元器件、光伏、LED、LCD、OLED、触控显示、航空航天等广泛领域科研院所专家、学者；企业界管理层，质量、研发、生产部门的技术人员及管理人员。
值得一提的是，会议期间，除知名企业高管和资深行业专家分享精彩报告外，胜科纳米等业界龙头企业代表还将进行圆桌论坛，就半导体和新材料分析测试发展趋势与机遇展开深入而透彻的剖析交流，以期给广大从业者一些发展建议和有效参考。一年仅此一次，机会难得，不容错过。
本次会议设定规模350人
不收注册费
10月27日
第五届纳博会分析测试应用论坛
与您相约苏州国际博览中心B1馆
【点击阅读原文立即报名】
2022纳博会详情垂询组委会
会议组：蒋女士 18866025960
展览组：陆先生 15050142680
宣传组：蒋女士 15250038690
中半协MEMS分会：张先生 15062459468