SEM(scan electron microscope)是扫描电子显微的英文缩写,利用电子扫描成像技术,对断裂面进行显微图像分析,叫断口SEM。断口SEM向我们展示了断裂面的形貌细节,这些细节蕴藏着断裂的成因以及材料加工的缺陷。
原料粉末组成,成形密度,烧结状况,这些过程制造工艺都会影响粉冶件的断裂,在断口SEM形貌上,都会有不同体现。
文章来源:粉末冶金圈
今日编辑:明轩
材料科学与工程
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