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北京化工大学石峰教授团队Sci China Mater综述 | 面向Micro-LED显示的巨量转移及检测修复技术

The following article is from 中国科学杂志社 Author 中国科学材料科学

近日,北京化工大学材料科学与工程学院石峰教授团队的综述文章“Mass transfer, detection and repair technologies in micro-LED displays”在Science China Materials (SCMs)期刊在线发表,总结了近年来面向Micro-LED显示的巨量转移及检测修复技术的研究进展。

微发光二极管(Micro-LED),是指以微米级无机LED器件为发光像素的主动发光显示技术,像素点尺寸通常小于50 μm。Micro-LED具有高亮度、高比度、高分辨率、快响应、低能耗等优势,被认为是未来的终极显示技术,有望用于巨幅大屏显示、AR/VR近眼显示、柔性显示等前沿领域。目前,Micro-LED的制备在高质量LED器件制备、巨量转移、全彩化显示、检测修复等方面存在一些发展瓶颈。其中,将LED器件从生产基底转移到显示面板上的“巨量转移(Mass Transfer)”,正面临着高精度、高良率、低成本转移的挑战,相关突破有望推进Micro-LED显示的进程。

近年来,国内外研究组在巨量转移研究中取得了诸多进展,相关行业巨头也争相投入研发并形成了一系列概念性产品,然而多数价格高昂,仍未形成具有主导性优势的巨量转移方法。为此,北京化工大学石峰教授团队综述了目前Micro-LED显示相关的巨量转移方法,以及相关的检测修复技术,并对其未来应用前景作了展望。除了高端显示以外,Micro-LED还可以拓展至柔性电子、传感、太阳能电池、智能机器人体系等多种前沿领域。

图1 巨量转移技术与检测修复技术

全文概要


论文从转移原理的角度,将现有报道的巨量转移技术分为了三类:即拾取-放置技术(Pick-and-Place)、流体自组装技术(Fluidic Self-Assembly, FSA)和激光选择性释放技术(Laser-Enabled Advanced Placement, LEAP),并结合具体报道对其原理和优缺点进行了分析比较。同时,论文还总结了巨量转移后的检测修复技术,并分析了巨量转移及相应检测修复技术的问题与挑战,以及展望了在高端显示、柔性电子/器件、机器人、太阳能电池、传感器等多种前沿领域的应用前景。

1. 拾取-放置技术(Pick-and-Place)

拾取-放置技术,是指通过利用范德华力、电磁力、静电力等多种材料界面的相互作用力,将LED芯片从生产基底上拾起,继而转移并放置到目标显示背板上的技术。该技术的关键在于,精细调节生产基底与与LED芯片、芯片与转移头、芯片与背板之间的结合/分离能差异,实现高效、精准甚至连续化转移。

图2 基于界面相互作用的拾取-放置技术

2. 流体自组装技术(Fluidic Self-Assembly, FSA)

流体自组装技术,是指让LED芯片在流体流动环境中,通过与目标基板之间的形状匹配,自动组装到指定位置的技术。这种策略不需要精密昂贵的仪器进行定位、拾取与放置,具有平行大规模制备、低成本、高效率的优势。

图3 流体自组装技术

3. 激光选择性释放技术(Laser-Enabled Advanced Placement, LEAP)

激光选择性释放技术,是指利用选择性的激光照射目标LED,使其从生长基底上剥离并落到目标基底指定位置的技术。例如,采用激光照射GaN基底可以使GaN发生分解反应产生氮气,实现芯片与基底的分离,同时结合气体产生的空隙和作用力,实现芯片的释放与转移。该技术已有一些商业化设备,具有转移速度快、可控性好的优势。

图4 激光选择性释放技术

4. 检测技术

巨量转移前后的检测修复技术,对于提高Micro-LED显示质量非常重要。现有的检测技术主要基于两种原理:电致发光检测(Electroluminescence detection, EL)与光致发光检测(Photoluminescence detection, PL)。电致发光通过直接连接电极,与Micro-LED实际应用场景相近,因而准确度较高;光致发光则通过光谱方法检测,具有非接触、不损坏芯片的特点。

图5 光致发光检测技术

5. 修复技术

在检测到坏点LED后,目前主要有两种修复方案:冗余电路设计(Redundancy design)和选择性移除替换(Selective remove & replace)。冗余电路设计,是指在工作LED附近设置相同的平行LED和电路作为备份,一旦工作LED损坏后冗余电路即刻启用,具有快速、原位修复的特点,但是也增加了成本。选择性移除替换修复则将巨量转移技术,例如pick-and-place、LEAP等方法,应用于选择性移除和替换受损芯片,目标性强,相对经济。

图6 拾取-放置选择性转移修复技术

总结展望

论文对当前Micro-LED巨量转移及相应的检测修复技术,进行了分析、总结与展望。发展低成本、高精度、高良率的巨量转移的优化技术甚至新原理,仍然是Micro-LED显示走向工业化与面向广泛市场的一大挑战,同时也为研发提供了契机,引起了诸多研究机构以及京东方、三星、苹果等知名企业的关注与投入。未来,除了Micro-LED显示以外,巨量转移多材料、高精度集成的特点,有望为柔性电子/器件、机器人、太阳能电池、传感器等多种前沿领域提供新的制备思路。


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Zhu, et al. Mass transfer, detection and repair technologies in micro-LED displays. Science China Materials, 2022, https://doi.org/10.1007/s40843-022-2110-2
https://doi.org/10.1007/s40843-022-2110-2




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