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材料的性质与其晶体结构密切相关。X射线衍射（XRD）是对晶体结构进行分析最基本也是最重要的一个表征。通过XRD分析，我们可以得到材料的相结构、相成分、晶粒尺寸等信息。然而，最常用的多晶衍射法有着一些本征缺点，它得到的谱峰重叠严重，从而造成大量材料结构信息损失。
1967年，荷兰晶体学家Hugo M. Rietveld提出了对中子衍射数据进行Rietveld全谱拟合的方法，克服了多晶衍射仅利用积分强度的不足，充分利用了谱图的所有信息，可以获得多晶材料的结构信息。后来，Rietveld方法也被用来对XRD数据进行分析，即是“XRD精修”。随着算法的完善和应用的推广，XRD精修已经成为修正晶体结构和获得结构信息最重要的方法之一。
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