北理工曹传宝和朱有启《Adv. Funct. Mater.》:高(110)晶面择优取向耐粉化CuSe纳米片用于高性能镁电池
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研究背景
文章简介
图1 (a) CuSe纳米片制备示意图;(b, c) 沿b轴和[110]方向观察六方硒铜矿CuSe相的晶体结构;(d, e) 不同温度下合成的CuSe纳米片的XRD谱图及(102)、(110)面的衍射峰强度对比;在(f, g) 60、(h, i) 100和(j,k) 120 ℃条件下合成的CuSe纳米片的FESEM图
要点2
CuSe纳米片结晶度高(晶格条纹清晰,衍射点明显)。
图2 高(110)晶面择优取向CuSe纳米片的形貌和微观结构表征
要点3
以镁为负极,高(110)晶面择优取向的CuSe纳米片为正极组装镁二次电池,并进行电化学性能测试。实验结果表明,在电流密度为200 mA g−1时,CuSe纳米片的最大放电比容量为204 mAh g−1,第100次循环时仍保持180 mAh g−1的高可逆比容量。此外,在1 A g−1的电流密度下,比容量可以达到最大值106 mAh g−1,并且700次循环的平均每次容量衰减仅为0.095%。
图3 高(110)晶面择优取向CuSe纳米片的电化学性能
要点4
图4 高(110)晶面择优取向CuSe纳米片在完全放电状态下的形貌和结构表征
相关链接
https://doi.org/10.1002/adfm.202104730
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