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高温介电温谱（温度范围：室温~800℃）
高低温介电温谱（温度范围：-150~800℃）
宽温介电频谱（室温～200℃，频率范围0.1~10MHz）
电滞回线测试（陶瓷、单晶、薄膜、聚合物均可）
动态电滞回线、初始电滞回线、电滞 IV 曲线、疲劳、脉冲（PUND）、FORC测试、漏电流、C-V 曲线、损耗曲线，变温测试功能。
高温复阻抗测试：
室温到900度，频率范围1MHz-0.01Hz
应变曲线测试
室温d33
原位变温d33
电卡测试
电压1200V，温度-50℃~90℃
脉冲充放电测试
直流耐击穿测试（陶瓷、单晶、薄膜、聚合物均可）
直流极化（陶瓷，薄膜，聚合物均可）
热释电测试
透射电镜(TEM)
AFM、PFM测试（变温）
Raman测试（变温）
XRD（变温）XRD精修
超低温介电测量系统:
温谱和频谱,介电测量频率：10 Hz~ 100000 Hz,介电测量温度：10K ~ 390K
超高温介电测量系统：
介电测量频率：10 Hz~ 100000 Hz,介电测量温度：室温 ~ 900℃
变温压电系数d33测量系统：
测量温度区间：-100℃~室温或室温~500℃
变温电致伸缩测量系统：
测量温度区间：-100℃~室温或室温~200℃
变温铁电（P-E loop）测量系统：
此系统可以用于测量电卡效应和变温储能性能，测量温度区间-120℃~200℃）
铁电变温电镜服务：
常规实验：高分辨、明暗场、衍射斑
升级特殊试验：
CBED（纳米铁电微畴结构）
变温电镜拍摄（-150℃~500℃）
原位电场电镜拍摄（Tip: 需要提前半年预约）
铁电材料的机械性能测试：
应力-应变曲线 （压缩模式, 可变温测量）
储能模量DMA测试
温度：-150℃ ~400℃，频率：0.2Hz~ 20 Hz
铁电/铁磁异质结（多铁材料）直接法测量动态磁电耦合系数(α)
金相显微镜观察薄膜击穿位置分布
EPR测试
XPS测试
吸波测试
电磁屏蔽测试
Kpfm测试
力学性能测试
开尔文电阻测试
光谱仪测试
傅里叶红外测试
PL光谱测试
紫外–可见光和可见光分光光度法
样品加工
材料加工服务：
磨薄（可至0.07mm）、滚圆、抛光、倒角等试剂耗材
丝网印刷网版订做
Pt(111)/Ti/SiO2/Si衬底
绘图润色
本领域海外留学博士与青椒参与论文绘图与润色
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