电介质服务平台上新啦！
1、高温介电温谱（温度范围：室温~900℃）
2、超高温介电温谱测试 （测试温度：室温~1500℃）
3、高低温介电温谱（温度范围：-150~800℃）
4、宽温宽频介电温谱或频谱（-150～300℃，频率范围0.001Hz~10MHz）
5、偏场C-V测试 (可变温)
6、电滞回线测试（陶瓷、单晶、薄膜、聚合物均可）测试内容包含：动态电滞回线、初始电滞回线、电滞 IV 曲线、疲劳、脉冲（PUND）、FORC测试、漏电流、C-V 曲线、损耗曲线，变温测试功能。
7、高温复阻抗测试：室温到900度，频率范围0.01Hz~1MHz
8、应变曲线测试（可变温）
9、室温d33 （可代极化）
10、原位变温d33
11、电卡测试：电压1200V，温度-50℃~90℃
12、脉冲充放电测试
13、直流耐击穿测试（陶瓷、单晶、薄膜、聚合物均可）
14、直流极化（陶瓷，薄膜，聚合物均可）
15、热释电测试
16、SEM测试
17、透射电镜(TEM)
18、AFM（可变温）
19、PFM测试（可变温）
20、Raman测试（可变温）
21、XRD（可变温）
22、XRD精修
23、超低温介电测量系统: 温谱和频谱,介电测量频率：10 Hz~ 100000 Hz,介电测量温度：10K ~ 390K
24、超高温介电测量系统：介电测量频率：10 Hz~ 100000 Hz,介电测量温度：室温 ~ 900℃
25、变温压电系数d33测量系统：测量温度区间：-100℃~室温或室温~500℃
26、变温电致伸缩测量系统：测量温度区间：-100℃~室温或室温~200℃
27、变温铁电（P-E loop）测量系统：此系统可以用于测量电卡效应和变温储能性能，测量温度区间-120℃~200℃）
28、铁电变温电镜服务：
常规实验：高分辨、明暗场、衍射斑
升级特殊试验：
CBED（纳米铁电微畴结构）
变温电镜拍摄（-150℃~500℃）
原位电场电镜拍摄（Tip: 需要提前半年预约）
29、铁电材料的机械性能测试：应力-应变曲线 （压缩模式, 可变温测量）
储能模量DMA测试，温度：-150℃ ~400℃，频率：0.2Hz~ 20 Hz
30、铁电/铁磁异质结（多铁材料）直接法测量动态磁电耦合系数(α)
31、金相显微镜观察薄膜击穿位置分布
32、EPR测试
33、XPS测试
34、吸波测试
35、电磁屏蔽测试
37、Kpfm测试
38、力学性能测试
39、开尔文电阻测试
40、光谱仪测试
41、傅里叶红外测试
42、PL光谱测试
43、紫外–可见光和可见光分光光度法
44、微波介质陶瓷Q值、温漂测试
45、陶瓷天线增益、轴比测试
46、压电阻抗频谱测试
47、TSDC热激励退极化电流测试
48、高温电阻率测试
49、粒度分析测试
50、热膨胀系数测试
51、DSC和TG测试
52、EDS/EDX测试
53、FIB
54、TEM
55、EBSD
56、3D-APT
57、EPMA
58、密度与相对密度测试
59、表面张力测试
60、热导率系数测试
61、热电性能测试
62、微区电子衍射测试
63、ICP测试
64、TMA测试
65、发电机相关测试：短路电流、开路电压；不同负载下电流、电压、输出功率；电容充电测试
66、光热测试：太阳灯下样品光热温度变化
粒径分布
67、Zeta电位测试
③试剂耗材
④数据处理、论文绘图与润色
1、论文封面、插图绘制
2、数据处理教程
3、论文语言润色
4、投稿指导
5、cover letter，response letter指导
注：本领域海外留学博士与青椒参与论文绘图与润色
⑤仿真与计算
1、comsol电流分布，电场分布，击穿路径仿真
2、comsol压电仿真
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另注：
1、所有项目均可开票、出具测试合同和测试清单，无需缴纳押金。
2、测试数据如有问题可免费复测，复测不收费。
3、3到5个工作日即可出结果，加急当天出结果。
4、如有特殊情况，可免费帮测。
所有项目持续更新ing
详情请联系：13818294465（微信同号）
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