TEM、SEM电镜图片粒径测量、分布统计、Origin作图超详细教程

来源丨科研绝技 ← 关注Ta今天带给大家的是如何分析统计SEM/TEM晶粒，所用的软件是Nano Measurer和Origin。Nano measurer在操作方面，比Image J、DigitalMicrograph（DM）要简单很多。它可以对电镜图片颗粒大小、长度、孔径等尺寸统计分析，自动绘制统计分布图，粒径的总结果和最终统计结果由*.txt文件输出。程序免费，界面简洁，易上手，有需求的朋友请下载使用！

识别下方二维码，回复关键词“NM”，下载Nano Measurer安装包。

Nano Measurer软件安装

解压安装包，运行Nano Measurer，选择安装语言，一直点击下一步安装，直到整个软件安装完。

关于安装中msvbvm60.dll的错误：

少数同学反馈安装时，系统会弹出关于msvbvm60.dll文件错误对话框。请选择"忽略(Ignore)"，继续安装。然后将上图中的msvbvm60.dll文件复制到计算机的C:\windows\system32目录下.\

Nano Measurer使用教程

运行Nano Measurer 1.2软件，打开需要统计的SEM图片（Jpg格式），首先设置标尺，如图注意：软件只支持*.bmp和*.jpg格式图片，对于TEM文件(一般是*.dm3)，请用<DigitalMicrograph>软件打开，然后在电镜图片上鼠标右键，复制图片，再使用Windows自带的<画图>软件新建一个空白的画板，粘贴图片，最后作适当裁剪(除去空白的边幅)。

在对颗粒进行标记统计，至少需要10个数据及以上，详细步骤：

1. 打开电镜文件，在电镜图片上按住鼠标左键不放，拖动鼠标，由此确定标尺；单击菜单"设置"->"标尺"，在窗口中输入标尺真实长度和单位；

2. 拖动鼠标在电镜上标示颗粒，每标示一个颗粒，程序会记录其序号和粒径，结果会在"即时报告"窗口中显示；

3. 对于效果不理想的颗粒，可将鼠标放在电镜图片的颗粒序号上，单击鼠标右键删除，或在"即时记录"窗口中选择某个颗粒序号，单击鼠标右键删除；

4. 测量粒径中，可以点击菜单"设置"->"标记"，选择颗粒序号在标记线的合适位置和颜色；

5. 当被测量的颗粒总数达到10个，可以单击菜单"报告"->"查看报告"；

6. 测量颗粒中，可随时在电镜图片的空白区域内，单击鼠标右键,选择菜单放大缩小电镜图片(最大放大3倍,最小缩小0.25倍)；

7. 本程序缺省设定样本组数为10，在组分布时,样本的组范围确定采用上偏，即2.5落在2.5-3.0内而非2.0-2.5内。

然后点击报告，将数据生成txt文件，保存在桌面以方便查找。

Origin对粒径分布作图

按下列步骤可以实现Origin对粒径分布的快速作图:

（1）将导出文件的“统计报告”部分直接拷贝到Origin表格中(4列)；

（2）设表格第2列为X轴，第4列为Y轴，然后作图。

如需要自定义组数和样本组距可如下操作:

（1）复制导出文件的"基本报告"部分至Origin表格中；

（2）选择第2列右键鼠标运行"Frequency Count"命令。

详细步骤如下：

1. 打开Origin作图软件，将txt数据复制到Origin中，注意，只要数值

2. 选中Y轴，点击菜单栏Statistics/Descriptive Statistics/Frequency Counts/Open Dialog

3. 点击OK

4. 选中Count(Y)，使数据生成柱状图（Column）

5. 对柱状图进行正态分布拟合：

点击菜单栏Analysis/Fitting/Nonlinear Curve Fit/Open Dialog

6. 点击Function 的对话框的下三角标，选中Gauss

7. 再点击Fit进行拟合，得到如图

8. 再对原始数据进行求取平均值和标准差。

9. 选中Y轴，点击菜单栏Statistics/Descriptive Statistics/Statistics on Columns/Open Dialog

10. 点击OK，得到平均值和标准差

11. 对图像进行处理，即可得到我们想要的图像 

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