美国陆军研究实验室Jan L. Allen教授:高镍正极在满电状态下的降解机理及锑掺杂改性
The following article is from 清新电源 Author 李宝华课题组
与实验室测试条件不同的是,实际应用中,电池通常不会在充满电后立即放电,而是在使用前(满电状态下)搁置一段时间。这种满电状态的搁置将对正极材料施加巨大的电化学应力,导致许多富镍层状氧化物在很大程度上发生降解,导致电池使用寿命下降以及失效。
成果简介
近日,美国陆军研究实验室Jan L. Allen教授,利用一系列的TOF-SIMS和HR-TEM结构分析等表征工具,揭示了满电状态下电池失效的机理,并采用锑掺杂,来降低晶界区过渡金属层的晶格不稳定性,缓解正极-电解质界面的结构降解。该工作以“Degradation of High Nickel Li-Ion Cathode Materials Induced by Exposure to Fully-Charged State and Its Mitigation“为题发表在Advanced Energy Materials上。
研究亮点
探究了满电状态下高镍正极材料的降解机理; 采用锑掺杂以改善满电状态下高镍材料的晶格不稳定性;
为实际应用中锂离子电池的设计和理解开辟新的途径。
图文导读
图1 a)NCM90和b)Sb-NCM90的横截面SEM图;c)30 °C下0.1 C倍率第一圈充放电曲线;d)4.3 V的截止电压下0.5 C倍率的循环性能;e)NCM90和f)Sb-NCM90的微分电容曲线以及对应的g)H2-H3相变归一化峰面积;h)4.1 V的截止电压下0.5 C倍率的循环性能
[满电状态对高镍材料的影响]
为了从不同的角度研究满电状态对高镍正极材料的影响,作者对4.3 V充电状态后的新鲜电池和4.3 V充电状态后静置10天的电池进行对比。SEM图显示(图2 a),充电状态后新鲜电池的NCM90颗粒在充电至4.3 V后出现大量的晶间裂纹。在4.3 V下静置10天后,NCM90颗粒中的裂纹得到了明显的扩展,微裂纹网络沿着晶界延伸到颗粒表面,颗粒完整性遭到了严重的破坏(图2 c)。TOF-SIMs显示NCM90颗粒中的F含量从初始的14.8 %增加到28.7 %,扩大了近两倍(图2 e、g、i)。相应地,NCM90的电荷转移阻抗也由原来的35.8 Ω增加到110.1 Ω(图2 j、l)。由此可观察到,满电状态对高镍正极材料的结构起到严重的破坏性。
相比之下,4.3 V充电状态后新鲜电池以及4.3 V充电状态后静置10天的Sb-NCM90材料的晶间裂纹的情况明显优于NCM90(图2 b、d)。静置10天前后,Sb-NCM90材料中的F含量(图2 f、h、i)和电荷转移阻抗(图2 k、l)均明显低于NCM90,这得利于Sb元素的掺杂作用。
图2 a)NCM90和b)Sb-NCM90电极在4.3 V充电状态后拍摄的横截面SEM图;c)NCM90和d)Sb-NCM90电极在4.3 V充电状态后静置10天后拍摄的横截面SEM图;e)NCM90和f)Sb-NCM90电极在4.3 V充电状态后测试的TOF-SIMs;g)NCM90和h)Sb-NCM90电极在在4.3 V充电状态后静置10天后测试的TOF-SIMs;i)根据TOF-SIMs计算所得的F含量;j)NCM90和k)Sb-NCM90的EIS以及对应的l)Rct值;m)NCM90和Sb-NCM90的放电容量
[满电状态下Sb的掺杂作用]
为了进一步探究Sb-NCM90材料在满电状态下的失效机理,以及Sb元素的掺杂作用,作者进行了TEM分析。如图3 a-b所示,NCM90材料表面存在十几 nm的Fm-3m岩盐结构的NiO,该岩盐相具有较差的导电性,这是界面电荷转移阻抗增加的原因。然而,Sb-NCM90材料内部呈现排列有序的R-3m层状结构,但材料表面存在局部的Li/Ni混排,这是由于Sb5+的掺杂作用,为了保持电中性,处于不稳定态的Ni3+容易被还原成Ni2+。导致材料表面5 nm的范围内存在岩盐-层状结构的混合相,该混合相可以防止Sb-NCM90材料在满电状态下的结构坍塌(图3 c-e)。此外,TEM-EDS显示(图3 f-g),Sb主要存在于NCM90材料的晶界处。
图3 a-b)NCM90在充电状态下静置3h并经过100圈循环后的TEM图;c-e)SB-NCM90在充电状态下静置3h并经过100圈循环后的TEM图;f)循环前Sb-NCM90的Ni、Co、Mn和Sb的TEM-EDS元素映射和g)晶界处Sb的线扫结果
为了确定Sb掺杂剂在NCM90材料中诱导长程有序取代的倾向,作者进行了密度泛函理论(DFT)计算研究Li/Ni混排能。相对于NiO6八面体,SbO6八面体中每个O平均增加0.18个电子,表明Sb-O键比Ni-O键具有更强的键能(支撑信息)。以前的研究认为,更强的Sb-O键更能抑制充放电过程中正极材料的氧损失。图4 a表明,原始的NCM90材料的Li/Ni混排能发生在0.90-1.12 eV的相对较窄范围内。然而,Sb-NCM90材料的Li/Ni混排能分布要宽得多,存在于0.22-0.89 eV的宽范围内。表明,Sb5+存在能够降低Li/Ni混排能,在一定程度上促进Li/Ni混排的发生,形成岩盐-层状混合相。
图4 a)由DFT计算所得的Li/Ni混排能量图;b)Li48SbNi47O2结构中单个Li/Ni交换的最低能量结构(Ni与Sb同层);c)Li48SbNi47O2结构中单个Li/Ni交换的最低能量结构(Ni与Sb不同层)
总结与展望
文献链接:
1、Hohyun Sun, Travis P. Pollard, Oleg Borodin,et al. Degradation of High Nickel Li-Ion Cathode Materials Induced by Exposure to Fully-Charged State and Its Mitigation[J]. Advanced Energy Materials, 2023.
DOI: 10.1002/aenm.202204360.
原文链接:
https://doi.org/10.1002/aenm.202204360.