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【视频】【第五届表面分析技术应用论坛】北师大吴正龙：测量XPS谱峰强度
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吴正龙 教授级高工（北京师范大学）
吴正龙，在北京师范大学分析测试中心长期从事电子能谱、荧光和拉曼光谱分析测试、教学及实验室管理工作。熟悉表面分析和光谱分析技术，积累了丰富实验测试经验。主要从事薄膜材料、稀土发光材料研究及石墨烯材料表征技术、表面增强拉曼光谱技术的研究，在国内外期刊发标多篇学术论文。现任全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析技术委员会副主任委员，主持和参与多项电子能谱分析方法标准。近年来，在多场国内电子能谱应用技术交流培训会上担任主讲人。
报告提纲
1.GB/Z 32490-2016表面化学分析X射线光电子能谱确定本底的程序2.GB/T 28893-2012表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息往期回顾
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