测纸方案都一样,200张与60张的区别只在细微之处
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我们是来自苏州大学的庄悦、杨泰铭、赵文翔,在2019年电赛中选择F题,并有幸获得国一。感谢苏大电子信息学院副院长陈小平教授向达尔闻Momo推荐了我们,让我们在比赛后,对自己的作品进行深刻的复盘,同时也希望我们的一些经验能够帮助更多的同学。(下拉文末有STM32开发板抽奖活动)
在分享我们的方案前,看到达尔闻已经分享过3篇关于F题的解析,最好的参赛作品能够测到200多张(200张方案解析),而我们的作品只能准确测到六十张,校准过程也比较繁琐。经过我们仔细讨论后,差距分析如下:
抗干扰措施做的不够完善。校准过程由于是逐张校验,意味着人为的不可控干扰会提高,例如人站的位置,放纸的情况,按键的动作等等都会影响测量的结果。
纸张计数显示装置主要由STM32 单片机模块、平行极板、FDC2214 电容传感模块、LCD显示模块组成。
硬件模块调试:FDC2214模块的SCK和SDA引脚分别与STM32的PB10、PB11连接完成通信工作,VDD接口3.3V,GND接地,芯片其余非测量接口均悬空,芯片外围电路的LC振荡模块使用的是18uH的电感和33pF的电容,两块金属铜板分别连接50cm的导线接在测量端口两端,STM32中的程序能实现读取测量值的功能。
我们准备两个测试方案,一是区间测量,二是函数拟合方式。区间测量方式将获得的FDC2214传感器模块的数据值与数据值区间比对,将对应的纸张数量打印在LCD指定位置上。同时可以用按键对五十以上的张数对应基准值进行三次函数拟合预置替换;除此之外准备了备用的快速校验功能,通过读取十张,二十张,三十张,四十张,五十张纸对应的通道值,快速拟合产生结果。
case KEY1_PRES: //控制LED1翻转
{ if(judge){ //测量模式
LCD_ShowString(10,150,200,16,16,"number of paper:");
for(tempt=0;(tempt<=59&&now);tempt++)
{
if (x[tempt]<=ChValue[2]&&ChValue[2]<=s[tempt])
{LCD_ShowxNum(155,150,tempt+1,2,16,0);
LCD_ShowxNum(85,270,x[tempt],9,16,0);
LCD_ShowxNum(85,290,s[tempt],9,16,0);
now=0;}
}
now=1;
BEEP=!BEEP;
delay_ms(250);
BEEP=!BEEP;
}
if(judge==0) //校验模式
{tempt=0;
xx[0]=ChValue[2];
ss[0]=ChValue[2];
for(;tempt<30;tempt++)
{ delay_ms(50);
if( ChValue[2]<xx[0])
{ xx[0]=ChValue[2];
}
if(ChValue[2]>ss[0])
{ss[0]=ChValue[2];
}
xx[1]+=ChValue[2] ;
}
fs=xx[1]-(xx[0]+ss[0]);
fs/=28;
LCD_ShowString(10,170,200,16,16," now is rocord:");
LCD_ShowString(10,190,200,16,16,"now is successful rocord:");
s[round]=1.1*fs;
x[round]=0.9*fs;
LCD_ShowxNum(210,190,round++,2,16,0);
LCD_ShowxNum(185,170,round,2,16,0);
LCD_ShowxNum(85,230,fs,9,16,0);
xx[1]=0;
if(round-1)
{
save=(s[round-2]+x[round-1]);
save/=2;
s[round-2]=save-1;
x[round-1]=save;
}
}
}
break;
为了提高测量精度,我们选择了区间测量方法。在处理区间上下界的时候,考虑到电容值的增长随极板间距增大会变缓慢。设计算法时考虑到这一点,让区间的下界取的偏大,而不是简单的二分。例如20张纸对应通道值200,21张纸对应通道值210的话。由于电容和张数成倒数关系,20.5张纸对应的通道值必然大于205。所以可以让电容值大于206的结果才归于21张,而不是205。
此次参加电赛,最想感谢的就是我们学院、指导老师和实验室同学为我们提供的帮助。
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