G200X 纳米压痕仪

一

设备简介 

纳米压痕仪

G200X

Nano Indenter G200X可提供纳米级的力学测试功能，能够精确进行各种力学定量分析。G200X系统中配置了高精度纳米马达样品台、最大的样品安装系统和高分辨率光学显微镜。G200X系统可选功能包括连续刚度测量(CSM)、扫描探针显微成像、划痕测试、动态力学分析频率扫描、超高速压痕测试和冲击测试等

二

厂家型号

● KLA G200X

三

技术指标

1. 配置高精度加载装置

● 压头总位移范围：20mm；

● 最大压痕深度：40 um；

● 位移分辨率：0.001 nm；

● 最大载荷 ：50 mN；

● 载荷分辨率：3 nN

2. 配置标准加载装置

● 压头总位移范围：20 mm；

● 最大压痕深度：80 um；

● 位移分辨率：0.01 nm；

● 最大载荷 ：1000 mN；

● 载荷分辨率：6 nN

3. 配置划痕和摩擦擦损模块

● 最大划痕力：1000mN；

● 最大划擦深度：40um；

● 最大划痕长度：100mm；

● 最大划痕速度：100um/s；

● 最大磨损面积：10mm×10mm

四

主要应用

● 用于各种材料(块体材料或薄膜材料)的纳米综合（力学性能）的静态或动态测试，包括材料的纳米压痕、纳米划痕、原位扫描成像等力学特性测试。可以提供材料的压痕硬度，弹性模量，蠕变，断裂韧性，摩擦系数，基结合强度，弹性，塑性功，储能模量，损耗模量等参数。还能快速给出材料的硬度与弹性模量随样品深度的变化曲线，可用于研究材料的裂纹特性等