D8 DISCOVER 高分辨X射线衍射仪

一

设备简介 

高分辨X射线衍射仪

D8 DISCOVER

高分辨X射线衍射仪，配备了双晶和四晶单色器，三轴晶分析晶体以及阵列探测器。这些特征可以非常方便的在薄膜材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)等。

二

厂家型号

● 德国 Bruker/D8 DISCOVER        

三

技术指标

● Theta/theta 立式测角仪；

● 2Theta角度范围：-110°~160°；

● 角度精度：0.0001度；

● Cu靶，标准尺寸光管；

● 扫描方式：

   θ/θ、2θ、rocking、phi、psi，RSM等

四

主要附件

● 探测器：林克斯阵列探测器；

● 高精度五轴尤拉环样品台；

● 二次反射Ge(220)单晶单色器；

● 四次反射Ge(220)单晶单色器；

● 衍射光路自动可变狭缝/三轴晶光路切换模块

五

主要应用

高分辨XRD(HRXRD)

● 外延多层膜厚度
● 晶胞参数
● 晶格错配
● 组份
● 应变及弛豫过程
● 横向结构
● 镶嵌度

X射线反射率(XRR)
● 薄膜厚度
● 粗造度
● 密度

倒易空间图谱(RSM)
● 晶胞参数
● 晶格错配
● 组份
● 取向
● 弛豫
● 横向结构