【实用教程】粉末XRD精修参数的选择顺序

两个参数

粉末XRD精修过程涉及很多参数一般而言，对于整个精修过程需要修正的参数主要分为两大类：全局参数和相参数。-*/

• 全局参数包括：零点、仪器参数（几何光学）、样品位置偏差、样品的吸收等等；

• 相参数：也称结构参数，主要包括晶胞参数、原子位置、热参数、位置占有率参数等。另外还有晶粒大小、微观应力以及择优取向等一些其它参数。

由X射线衍射仪获得的粉末衍射谱图，是由结构参数和图形参数两种不同特性的参数构成的。

图形参数主要包括XRD谱图中的峰形、峰位置以及背景等，而衍射峰的计数（强度）主要由结构参数决定。在初始结构模型基本正确的基础上，对各参数的修正需要有一个合理的顺序。

两个步骤

一般而言，在进行XRD精修时需要分两步进行：

• 先对图形参数进行修正，即通过分析函数（如Lorentian函数、Gaussian函数、Pseudo Voigh或Pearson-VII函数）对XRD谱图中的衍射峰进行拟合，确定最佳峰位置和峰强度。
  大多数具有Bragg-Brentano衍射几何的X射线衍射仪收集到的衍射峰都可以很容易地用上述函数进行拟合。

• 在XRD谱图拟合好的基础上对结构参数进行修正，当两组参数都稳定收敛时，修正结果才是准确的。

一般常见的分步修正参数选择顺序如下表1所示。

表1 XRD精修参数选择顺序

明智的精修策略可以节约时间、少走弯路（迭代易达到收敛，避免虚伪极小）。

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