AFM为例 || 为什么读了那么多文献，实验还是不得要领？原因在这

倏尔捕捉流光一霎，便可点缀万千星海

原子间的相互作用

是大自然的玄微之力

似有若无却又从未消逝

深研之下，窥见奥妙万千

新春来临之际，何不再来一场头脑风暴

让思维飞一会儿~

或游弋于深海，或翱翔于蔚蓝

在材料物理学大神导师的精妙讲解下

认识并掌握AFM的魔幻力量🌸

课程介绍

原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。

将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。

它主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。

微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。

AFM测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。AFM主要有3种操作模式，接触模式、轻敲模式和峰值力轻敲模式，基于这三种模式发展了多种多样的新功能测量，Dimension Icon原子力显微镜主要应用于材料的形貌、粗糙度、较小台阶（nm级厚度）测量，同时集成压电（PFM）、磁畴（MFM）、表面电势（EFM）、力曲线测试等多功能测量。

本次课程共两节课将会介绍AFM的工作原理、制样及测试，最后简要介绍下数据处理和高阶应用。

讲师介绍

张老师，北京航空航天大学材料物理在读博士，硕博期间课题方向为半导体材料制备与应用，主要研究内容包括非金属半导体材料结构对性能影响研究。多年的原子力表征积累了丰富的经验，并基于AFM做出一些高端表征，可以对同学们常见的AFM表征应用问题，都能做出解答。

课程安排

上课时间：1月20-21日 晚19：30

第一节课：主要介绍AFM的基础知识、工作原理及探针简介、AFM样品制备；

第二节课：AFM的工作模式及高端应用（生物、力学、电学等）；分析软件简介及课程总结。

课程剪影

此外会介绍下相关课程知识：MFM的相关知识及如何测试斯格明子。

相关测试结果：

测试实例1：薄膜表面形貌

测试实例2：三维形貌图

测试实例3：台阶高度测量

上课安排

上课时间：

1月20、21日，晚19：30

参与方式：

B站直播讲座

UP主：

指南针学院

直播地址：

http://live.bilibili.com/21727250

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适宜听课人群

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