JNNP:立体脑电图检查中电刺激诱发癫痫发作是术后癫痫复发的有用预测指标吗?
自癫痫手术开始以来,大脑皮层的直接电刺激(ES)一直被用于两个主要目的:绘制功能性皮质图和定位致痫区(EZ)。
该研究回顾性分析了346例经SEEG手术治疗的局灶性癫痫患者。所有患者均接受非侵入性术前评估,包括长时间头皮脑电图监控、高分辨率MRI(癫痫协议)和正电子发射断层扫描。作为潜在的预测因素,包括:病因、MRI数据、发病年龄、癫痫持续时间、手术年龄、手术位置以及癫痫发作是由低频电刺激(LFS)还是高频电刺激引起的。
在该研究的346例患者中,63.6%的患者预后良好(无癫痫复发)。与单一病因分析有显著相关性。在多变量分析中,MRI、II型局灶性皮质发育不良和肿瘤使癫痫复发(SR)的风险分别降低了47%、58%和81%。与没有诱发性癫痫相比,LFS后发作性事件的发生显著地预测了癫痫发作的有利结果,最后随访时SR致残的几率只有44%。
在已知的预测预后因素中,LFS诱发癫痫是术后癫痫预后的一个有意义的预测因素。
参考文献:
Trebuchon A, Racila R, Cardinale F, et al. Electrical stimulation for seizure induction during SEEG exploration: a useful predictor of postoperative seizure recurrence?Journal of Neurology, Neurosurgery & Psychiatry Published Online First: 28 October 2020. doi: 10.1136/jnnp-2019-322469
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