谁来解决半导体业的不公平？
在物联网，毫米波，硅光子，人工智能，汽车电子等技术的推动下，国家大力发展半导体产业，中国半导体行业正迎来新一轮发展机遇。
而在这些新技术在攻坚突破的同时，全行业也努力满足对芯片更高性能、更小尺寸、更低成本等要求，这些无一不让从业者面临着更严峻的技术和市场，产业人才也需和业界良好对接。芯片作为半导体行业的关键一环，其测试性能值得全产业深入探讨。
全球半导体业发展进入中国时间，“摩尔定律”终点临近，但半导体产业的垄断性却在加剧，导致新的“不公平”诞生，它并不利于产业的正常进步。
在半导体测试领域，对应客户的选择反而较少。
测试是对产品一次严格的筛选，以提供用户质量合格的产品。
重要性不言而喻。
此时，NI推出：覆盖实验室特征分析、晶圆测试、 FT 测试以及 SLT 系统级测试的方案。
不论是设计验证、晶圆制造、封装过程中或是封装完成，针对 RFIC 、混合信号芯片、甚至最新 3DIC 和系统级封装（ SIP ) 等不同测试类型和趋势， Nl 通过统一的平台和业界领先的仪器技术助您提高测试速度、降低成本。
NI 的半导体测试系统（ Semiconductor Test System ，筒称 STS ）提供了可快速部署到生产的测试系统，适用于半导体生产侧试环境此外． PXI 平台开放式与模块化的设计，使您可以获得更强大的计算能力及更丰富的仪器咨源．进一步提升半导体测试效率，降低测试成本
NI提供的半导体测试平台STS将会是混合信号芯片和MEMS和射频等芯片在内的测试的最优选择。
强大的软件工具用来开发、调试和部署测试程序
NI 半导体模块可帮助测试工程师开发、调试、优化、部署和维护半导体测试系统。借助这款针对行业标准 Test 一 stand 环境的附加模块，半导体测试工程师将可获得一流的测试程序开发和调试环境。
适用于主流半导体制造环境
Nl STS 适用于主流半导体制造环境，比如分选机（ Handler ) /探针（ prober ）集成、标准 Docking （包括 Soft Dock / Hard Dock ）、弹黄探针（ Pogo Pin ）连接、 STDF 数据报表生成和系统校准，可轻松集成到生产测试设备。
公司介绍
近40年来，NI一直致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对最严峻挑战。 借助这些解决方案，NI客户为市场提供了数十万种产品，克服了无数的技术瓶颈，为全人类创造了更美好的生活。 如果您能打开、连接、驱动或启动某个设备，那很可能就是基于NI技术实现的。
想要了解更多测试相关细节，请扫描下方二维码，或点击文末“阅读原文”，注册成功后即可获取完整的NI半导体测试解决方案手册。
提醒，若您通过资格审核，将邀请您加入 NI官方组建的“半导体测试技术交流群”(约需三到五个工作天)。
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