功函数测试

功函数之前已经介绍过，如果需要测试功函数并计算，主要有四个办法，这次我们看一下功函数如何测试，本文所用数据下载请公众号后台回复数据10，所用软件和插件下载请公众号后台回复对应软件名，不想错过精彩教程，点击本页面最上方的“结构分析表征”，进入公众号主页，点击右上角的三个小点点，在弹出的界面点击“设为星标”。

ups一般情况下测试分为两种模式，X-ray模式和UV模式，紫外模式下通过氦气放电产生紫外光，主要的能量有HeI(21.22 eV)和HeII(40.81eV),一般采用HeI(21.22 eV)，他的相对强度达到97.7%，光斑大小1-2mm,能量分辨率90-120 meV。X-ray模式采集的谱图信号强度比较弱，需要长时间数据采集才能得到较好的信号，强度相对UV模式低3-4个数量级，所以如果样品合适，尽量采用UV模式；

测试需要选择UPS样品台，放进去后，可以先定位到银标样位置，然后倾斜样品台使其接地，一般银标样发生移动以后代表接地良好。

测试的样品需要导电并基地，所以需要用导电胶固定并接地，在测试前需要接地且用万用表测量电阻以确保导电性良好，样品大小不小于1cm*1cm，测试样品类型以薄膜样品为主，请确保与基底接触良好；如果是粉末样品，需要较大量，且用压片机压密实，目的都是确保导电性；由于紫外对真空要求比较高，且需要系统很干净，所以不建议粉末样品用UV模式测试，如果确实需要测试，可以涂抹于导电玻璃上进行测试，如果非要粉末状态进行测试，尽量选择X-ray模式，选择UV模式请尽量在放样前清理干净未附着的粉末，以免污染仪器。

测试前可以先测一个银标样的全谱和碳、氧、银的精细谱确认污染和氧化情况，然后将银标样做清洁，一般尺寸不小于2*2cm,清洁完毕，重新测一个银标样的全谱和碳、氧、银的精细谱，查看表面污染碳和氧化物是否清洁干净，如果不干净，继续清洁；

测试参数设置：

UV模式：选择UV source，并且需要手动多次清洗氦气管路，如果长期未使用UV，可能需要长时间清洗，否则紫外不能点火，手动点火成功后，去掉自动寻高(目测寻高），测试选择动能模式，测量范围5-28eV（相当于加了-5偏压，Lens mode选择UPS模式；

X-ray模式：选择x-ray source，在ion gun离子枪中设置偏压，点击sample current，sample bias 选择on和variable，-10偏压，sample holder选择normal -biased接地模式，测量范围选择10-32eV;

如果想同时通过X-ray模式或者UV模式测试功函数，最好制备两份样品进行测试，或者选择不同区域，如果不行，先用xray后用UV模式，两种模式测出的功函数会有区别，如果需要比较一批次的样品，请选择统一模式测试；

下期图文我们将介绍分析UPS数据的四种方法，之前的图文和视频已经介绍过几种，有兴趣的可以先去看看，下期会补充origin计算的方法。

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