送课程福利 | 可测试性设计理论和实践—DFT 免费赠送

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一起来看看本期课程福利吧！

课程简介

电子信息类专业的学生有望快速进入人工智能芯片设计行业, 年薪20万的集成电路设计工程师需要掌握十八般武艺, 随着深亚微米工艺的发展, 业界可测性设计工程师(DFT Engineer)的需求来逐年递增, 这个职位最重要的技能就是需要掌握JTAG, SCAN, ATPG, MBIST技术。如何快速进入人工智能芯片设计行业，掌握IC高级技术？

BSCAN技术--测试IO pad，利用JTAG接口互连以方便测试，实现不同芯片之间的互连；

MBIST技术--测试mem，保证芯片内部所包含的存储器都能够进行读写测试；

ATPG 技术--测试std-logic，与边界扫描测试的区别是内部移位寄存器实现的测试数据输入输出；

全速测试at-speed-test（测试时钟往往是由芯片内部的PLL产生很快的测试时钟用于实速测试)，主要用于scan测试—即AC测试和mbist测试；

学习完该课程的求职目标是：DFT Engineer

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芯起源半导体

讲师介绍

本次《可测试性设计理论和实践—DFT》由Ben老师主讲。Ben老师主要从事大规模集成电路可测试性设计的工作。曾经在2013年，英国诺丁汉大学芯片设计学院担任主任讲师，主要讲授超大规模数字集成电路可测试性设计课程；该视频上传至优酷，至今已经播放超过10万次。

课程大纲

1. VLSI test

2. Fault model

3. ATPG

4. Fault Simulation

5. Scan Insertion

6. JTAG

7. Logic BIST

8. Test compression

9. Memory test

课程收获

对刚刚从事集成电路设计的学生和工程师，通过该课程的学习可以高效掌握JTAG, SCAN, ATPG, MBIST技术，快速成为一名优秀的DFT Engineer。

活动时间与课程获取方式

活动时间：2017.12.29 早上9：00开始

获取课程方式：

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本课程由E课网合作提供