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【直播】中山大学测试中心谢方艳博士:原位/准原位光电子能谱(XPS/UPS)表征

KouShare 蔻享学术 2021-05-20


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本次报告由中山大学主办,于2021年5月21日9:30开始,授权蔻享学术进行网络直播。


主   题:原位/准原位光电子能谱(XPS/UPS)表征


报告人:谢方艳 高级实验师


单   位:中山大学测试中心


时   间:2021年5月21日 9:30


主办方:中山大学


报告摘要

原位/准原位光电子能谱表征可通过在光电子能谱仪分析室引入光纤光路、加热冷却装置、设计原位电池样品台等实现原位/operando光电子能谱表征,搭建与光电子能谱仪对接的真空互联系统实现样品制备、预处理、表面反应的准原位光电子能谱分析,明确反应机理、揭示薄膜生长机制、确定器件性能提高的影响机理、获得表/界面化学与界面能级结构相关信息等。本讲座主要内容包括光电子能谱简介、原位光电子能谱系统介绍、原位/准原位光电子能谱表征实例分析,详细介绍原位/准原位光电子能谱在环境催化、多相催化、原子层沉积 (ALD) 薄膜生长、半导体器件界面、钙钛矿太阳能电池、锂离子电池等研究领域中的应用和最新进展。


报告人简介



谢方艳,博士,高级实验师,硕士生导师,中山大学测试中心表面与结构分析平台主任,广东省表面分析专业委员会秘书长,2014年-2015年美国罗切斯特大学访问学者。从事表面分析工作十余年,主要负责光电子能谱仪的管理使用及功能开发,研究方向为表面与界面分析,新能源电池界面电子结构与界面相互作用研究,利用XPS/UPS技术开展燃料电池、钙钛矿太阳能电池、锂离子电池内在机理的研究。主持光电子能谱相关的国家自然科学基金2项;发表论文累计107篇;参与制定国家标准3项;申请发明专利6项;出版译著《表面分析技术》(第二作者);获得中国分析测试协会科学技术奖(CAIA奖)2016年度一等奖(第三完成人),2020年度二等奖(第一完成人)。


编辑:王茹茹



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