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不懂就问 || 千呼万唤，飞行时间表征课程答疑第二弹~
飞行时间表征公开课
课后解答第二弹
终于来啦！
公开课上的内容都会了没
不会也没关系
往下看
老师带着答案走来了
提问！
回答！
回复：TOF-SIMS是高空间分辨和高探测灵敏度的成分分析系统。
2 3D重构图是我们自己分析画出吗？
回复：专用软件对数据处理。
3 请问数据分析要使用特定的软件吗？
回复：是专用软件。质谱图可以导出用EXCEL打开的格式。
4 单颗粒面积太小深度剖析会不会荷电很差，导致结果不准？
回复：看材料荷电效应，单颗粒尺寸大小。
5 老师后面有做生物材料分析的案例吗？
回复：有，请看视频回放。（测试万事屋底部菜单，点击“屋主招牌”-“直播课程”，选择对应课程回放）
6 能不能定量测呢，包括成分？
回复：需要标准样品可以定量分析。
7 FIB与SIMS联用，边缘效应怎么处理呢？
回复：FIB加工后的断面，在SIMS分析前需要用离子源再清洁后再测试。
8 分析深度能达到多少？
回复：表面是小于2nm，结合溅射离子源可以到微米深度。
9 老师可以再讲一讲金属上的应用么？
回复：请看视频回放。（测试万事屋底部菜单，点击“屋主招牌”-“直播课程”，选择对应课程回放）
10 老师，食品监控双键那块可以再讲一讲吗？
回复：请看视频回放。（测试万事屋底部菜单，点击“屋主招牌”-“直播课程”，选择对应课程回放）
11 老师了解这个皮肤断面怎么切又能没有杂质， 看着这个杂质很少
回复：采用冷冻显微薄片切片机在冷冻条件下制备截面样品。
12 高聚物表面的亲水基团的伸展方向和深度能测么？
回复：通过团簇离子源深度剖析的方法可以试试。
13 矿物浮选剂方面做的多不？
回复：可以。
14 深度剖面横坐标时间与深度如何转换？
回复：首先获得溅射速率，通过溅射速率可以把时间转换成深度。（软件和EXCEL都可以实现）
15 深度剖面横坐标有的是帧数，可否转换成深度？
回复：首先获得溅射速率，通过溅射速率可以把时间转换成深度。（软件和EXCEL都可以实现）
16 能分析的最小厚度是多少呀？
回复：深度剖析最小可以分析1个纳米的厚度。
17 老师，我测了无机物的深度剖析，界面上本来，成分不该有变化，但是也有一个起跳咋回事？
回复：第一看仪器测试条件的稳定性如何（totalion/以及其它特征离子是不是都有回跳？如果都有回跳，可能是测试条件不稳定），如果只是特别元素回跳而其它离子比较正常，那很可能是真实的界面扩散。还有就是基体效应的影响。总之还是要看实际情况而定。
18 由于经费受限，金属截面机械抛光后进行TOFSIMS测量，可以吗？
回复：污染干扰太多，这样制样可以测，但数据太杂。
19 生物或植物组织石蜡包埋切断面会影响结果吗？
回复：可以测，但测之前最好用团簇离子源剥离表面再测比较好。
20 Si负极固态电解质膜做Depthprofile?
回复：真空兼容性好的，都可以测试。
21 麻烦再问老师一下AuS2如何确认呢，有硫的话会有各种硫成分？
回复：分别采集正负离子图谱，Au在正负离子模式下都有明显的产额，伴随Aux团簇离子。S、SOx主要在负离子模式下产额高，S/SO/SO2/SO3这些离子都会出现，AuxSy或AuxSOy这种离子也会出现。
22 组织如果不冷冻如何固定在硅片上？
回复：需要冷冻或干燥态。
23 hitachi的FIB-tof-sims，这个设备怎么样呢？
回复：FIB+TOF的这种系统，成像很好（空间分辨率高），但质量分辨不如专用的TOF-SIMS。适合无机材料，不适用有机高分子材料成分剖析（大分子离子产额低，质量分辨率差）。
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