又开一节【XPS直播】精讲--校准结合能、化学态解析、快速批量数据拟合

近年来随着科学技术的飞速发展，先进的表面分析技术已经成为功能材料和器件等领域中开展表面特性研究所必需的实验技术。

X射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS）是利用X射线入射样品表面，通过探测出射的光电子来获取样品表面组成和化学态信息的一种表面分析方法。目前，XPS作为实验室中重要的表面分析技术手段，已经广泛地应用于材料、能源、催化、微电子以及半导体产业等领域中，对于理解其中的构效关系起到重要的作用。

随着实验技术的发展，XPS的功能得到了极大的提升，不仅可以进行常规的单点测试，还可以结合多种溅射离子源实现对无机材料以及有机材料进行逐层解析的深度分析，更可以借助扫描聚焦型XPS实现对微区特征进行组分和化学态的空间分布分析。

面对丰富的XPS功能，XPS的数据分析却令很多同学头疼不已，例如如何校准结合能，如何进行化学态解析，如何进行谱峰拟合，如何判定数据拟合的合理性和如何快速进行批量数据拟合等问题。本期课程将从XPS原理出发并结合数据分析案例，来讲解XPS相关的数据处理方法~

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讲师介绍：

鞠焕鑫博士，2009年-2014年于中国科学技术大学获得学士和博士学位，毕业后在国家同步辐射实验室从事博士后研究。2016年6月-2018年10月，中国科学技术大学国家同步辐射实验室特任副研究员，主要从事软X射线谱学方法学研究以及能源材料/器件界面电子性质研究。在学术研究方面与用户合作在国际期刊发表学术论文80余篇；主持/参与多个国家级科研项目。2018年11月，加入PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司，担任应用专家。

课程介绍：

1. XPS原理概述

2. XPS应用：点分析，面分析和深度分析

3. 数据分析原则：定性和定量分析

4. 实际数据分析案例

XPS的相关图谱：

XPS基本原理↓↓

XPS应用：化学态成像↓↓

XPS数据处理方法↓↓

课程参与方式

B站直播讲座

上课时间：

5月31日  周一  19:30

直播地址：

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