基于OCVD(开路电压衰减)测定少子寿命数据处理及作图

简述

目前对于光生载流子寿命的测试都是基于一些光谱分析，如瞬态吸收光谱或时间分辨荧光光谱等，但这些测试较贵，而且数据处理比较繁琐，但在很多光催化文献中对于光生载流子寿命的评估又至关重要。

在这里本文为大家介绍一种简单的通过电化学工作站即可完成的光生载流子寿命测试方法。

OCVD测试基于的方法

基于OCVD求解少子的寿命其主要是要求解τn，然后以Voc为X轴，τn为Y轴作图，如下公式所示：

注：在测试OCVD的过程中，电压有时会是正值，也有时是负值，所以，对于τn取其绝对值即可。

KB：玻尔兹曼常数；T温度，开尔文温度；q原电荷量，一般的值为常数为0.026。

数据处理

1. 通过测试OCVD，我们可以得到其P-T对对应的曲线，如下图所示：

图1 P-T曲线。

2. 对图1进行一阶求导，然后取关灯以后的数据求τn值

3. 将得到的τn值为Y轴，X轴选取图1中关灯以后的电压衰减点，作图即可：

注：数据仅供参考，不允许使用！

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