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Vol.2:一文搞懂化学机械抛光(CMP)【报告说】

DF 半导体材料与工艺设备 2021-04-03

导读

集成电路制造踏着摩尔定律的节奏快速发展,逻辑芯片的特征尺寸已发展至5nm,存储芯片堆叠层数达到128层。CMP成为集成电路制造全局平坦化的重要制程,每一片晶圆在制造中都会经历几道甚至几十道的 CMP 抛光工艺步骤,而抛光对象分门别类,平坦化要求日趋复杂,因此 CMP 对于集成电路制造良率十分关键。


本期【报告说】和大家分享一份关于“化学机械抛光(CMP)”的基础+进阶知识课件。


本次课件从CMP的发展、CMP模块、CMP基础架构引入,讲解抛光设备、抛光工艺以及抛光材料的问题(抛光垫和抛光浆料),分析质量问题、影响生产力的因素以及抛光材料的参数,最后还提到了后CMP清洗及其设备。


以下是知识课件的部分概览:


由于完整版发言报告篇幅过大,如需获取完整版(PPT),在公众号后台回复“报告说”,获取领取方式。



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