安芯易QC实验室正式开幕，为客户提供更专业的服务！

12月24日，安芯易电子商务（深圳）有限公司旗下的元器件QC实验室正式开幕！二十多位行业人士莅临现场与富士康元器件检测专家进行了交流互动，并实地参观了实验室。感谢各位客户和合作伙伴的祝贺及莅临支持！

安芯易QC实验室配置多台高端专业检测设备，能够对多种电子元器件的物理性参数和电性参数等进行专业检测，该实验室由富士康检测创新中心全面设计、规划和建置，该实验室的建成大大提升安芯易公司元器件质量管控和供应链服务能力，为全球范围的顶尖电子制造业客户提供国际一流的品质保障服务。

//安芯易QC实验室规划及目标//

安芯易CEO Jason Fan先生在开幕式介绍了该实验室的建设初衷和未来的发展目标：

1、按照国际一流标准建设：高端设备和专业流程使得该实验室达到国际一流的元器件QC检测水平，国际标准的进出货全流程管控，为客户提供最专业的品质保障支持；

2、高端精密设备的云共享服务：向电子行业同行提供高端检测设备云共享服务，为行业内的各类合作伙伴提供按时、按需的使用支持，降低客户和合作伙伴的投资成本，提升合作伙伴的品质保障能力和服务；

3、富士康专业服务的对接：与富士康检测创新中心达成全面战略合作，协助更多的客户对接富士康元器件检测中心的全面、专业、权威的失效分析检测及国产替代等各类专家服务。

//开幕精彩瞬间//

开幕仪式

COFFEE TALK精彩瞬间

//高端检测设备云共享服务//

五大高端检测设备云共享服务，欢迎各位同行业伙伴按时、按需预约。01X-RAY无损透视检测仪——¥100.00/EA/小时02分立器件静态参数测试系统——¥200.00/EA/小时03精密LCR检测仪——¥200.00/EA/小时04Leica体视显微镜——¥100.00/EA/小时05高温老化试验箱——¥40.00/EA/小时

//安芯易QC实验室检测项目//

01

外观检测

使用设备：Leica体视显微镜

02

电性检测A

使用设备：精密LCR测试仪、万用表、直流电源

03

电性检测B

使用设备：半导体分立器件静态参数测试系统

04

X-RAY无损透视检测

使用设备：X-RAY无损透视检测仪

05

沾锡能力检测

使用设备：无铅熔锡炉

06

高温老化试验

使用设备：高温老化箱

//专业检测设备列表//

1Leica体视显微镜品牌：Leica（莱卡）型号：M205C

2精密LCR测试仪品牌：Keysight（是德）型号：E4980A

3半导体分立器件静态参数测试系统品牌：Kelvin(开尔文)型号：3500-2KV-200A

4万用表品牌：Agilent（安捷伦 ）型号：E4980A

5直流电源品牌：GwinStek（固纬）型号：GPR-1820HD

6X-RAY无损透视检测仪
品牌：ELT（艾兰特）型号：FX100F

7

高温老化箱

品牌：GuangBo(广博)

型号：GK-GW125L

8

无铅熔锡炉

品牌：Quick(快克)

型号：Quick100-15S

9

热风拆焊台

品牌：Quick(快克)

设备型号：Quick99OD

10

智能无铅电焊台

品牌：Quick(快克)

型号：Quick303D

11

静电测试仪

品牌：Quick(快克)

型号：Quick431

12

SMD零件计数器

品牌：Smtech（赛美特）

型号：CC-12

13

SMD半自动编带机

品牌：Smtech（赛美特）

型号：TAP880C

//富士康特色检测项目//

富士康检测创新中心成立于2005年，创始团队汇集科技精英，凭借雄厚的技术背景和开拓创新精神,配合高科技电子产品设计、验证、生产过程中的检测需求组建科技实验室。中心迄今发展成目前8大功能30余个专业的实验室，占地6.6万平方米，主要检测设备4300余台(套)，拥有1500人的管理、技术人员团队。实验室已取得CNAS、CMA、NVLAP、VCCI等国内国际能力认可资质，一份报告，全球通行。

真假料辨别

• 外观丝印尺寸比对
• 电性测试比对
• 化学开封芯片比对
• X-RAY内部结构比对
• 切片结构及材料成分比对

信号完整性量测

• 高速串行信号量测
  
• USB3.1&PCle3.0/PD
• 视频信号量测
• VGA/DVI、LVDS/MIPI、HDMI
• 并行总线信号量测
• 低速信号量测

元器件失效分析

• 超声波扫描分析
• 功能/参数分析
• 2D/3D/5D X-RAY探测
• 化学开封芯片表面观察
• 高倍观测（3D&SEM）

可靠性测试

• 温湿度加速老化
• 寿命老化测试
• SMT制程能力评估
• 机械冲击试验
• 混合气体测

ESD抗静电分析

• ESD-HBM测试
• ESD-MM测试
• Latch-up 测试
• 系统级ESD测试
• ESD保护元器件性能评

电磁兼容/安规性能测试

• 辐射干扰（RE,10m/3m）
• 传导干扰（CE）
• 电磁辐射耐受测试(RS)
• 传导耐受测试(CS)
• 电性快速脉冲耐受测试(EFT）

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