图2. (a)D18:Y6、(b)PM6:Y6和(c)PM6:IT-4F器件加热前后Jph-Veff曲线;(d)纯组分薄膜加热前后电离势变化图,数据来自UPS测试,插图为能级影响内建电场示意图;(e)随内建电场变化的模拟J-V曲线;(f)加热前后D18:Y6、PM6:Y6和PM6:IT-4F的(100)和(010)方向极图;(g)D18:Y6、(h)PM6:Y6和(i)PM6:IT-4F器件加热前后的VOC与光强依赖性曲线;(j)加热前后器件的载流子迁移率。 这一研究成果不仅建立了高效体系稳定性的构效关系,同时为形貌调控提升器件稳定性提供了有效的指导和启发。以上相关研究以“Elucidate the Thermal Degradation Mechanism of Y6-Based Organic
Solar Cells by Establishing Structure-Property Correlation”为题发表于国际知名期刊:Advanced Energy
Materials。西北工业大学辛景明博士为论文的第一作者,西北工业大学刘剑刚教授、苗宗成教授及西安交通大学马伟教授为论文的共同通讯作者。