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活动时间



2020年9月01日-2020年9月20日



参与项目



FIB-SEM(仅TEM样品制备)
Micro/Nano/工业 CT
环境扫描电子显微镜



参与方式



转发开篇海报到朋友圈积赞15个
截图给指南针工作人员



项目介绍



聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)

1. 定点剖面形貌和成分表征 

2. TEM样品制备 

3. 微纳结构加工 

4.  芯片线路修改

5.切片式三维重构

6.材料转移 

7.三维原子探针样品制备

Micro/Nano/工业 CT

CT是一种非侵入性和非破坏性成像技术,在不破坏样品的情况下,利用X射线对物体进行扫描,能够获得样品内部三维结构和形貌信息。

环境扫描电子显微镜

环境扫描测试的样品无需干燥,潮湿,含水样品可直接上机测试;可做形貌、点扫、线扫、mapping



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湖南,湖北,江西

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