【直播】【未来芯片测试技术提升计划】高性能示波器原理及使用
以下文章来源于未来芯片技术高精尖创新中心 ,作者ICFC TestLab
『未来芯片测试技术提升计划』是清华大学集成电路学院、北京未来芯片技术高精尖创新中心与微纳加工中心联合推出的实验室技术系列培训。培训通过线上直播与线下讲座相结合的形式,对相关仪器设备的运作原理及实验操作进行讲解与现场演示,旨在服务集成电路领域学生、教师与工程师快速、系统地掌握芯片测试仪器设备知识、提升相应技术能力的需求,为推动我国集成电路产业高水平人才培养与高质量科技自立自强做出贡献。
直播信息
培训主题
高性能示波器原理及使用
主讲嘉宾
赵传猛(德科技方案工程师)
报告时间
2022年3月17日 13:30-17:00
主办方
清华大学集成电路学院
北京未来芯片技术高精尖创新中心、微纳加工中心
直播二维码
活动议程
13:30-13:35 主持人介绍主讲嘉宾
13:35-16:40 主讲人报告
16:40-17:00 现场答疑
报告人介绍
赵传猛,是德科技方案工程师,毕业于北京理工大学,多年从事路由器/交换机等通信设备硬件研发经验,2018年加入是德科技,从事数字/光/车载通信产品技术支持工作,熟悉芯片、板卡和产品的高速IO发展特点、技术标准和测试要求。报告内容
高性能示波器和探头的基本原理、关键参数和功能,及其对测试结果的影响
示波器界面菜单和使用注意事项
演示实际操作和通用的抖动、眼图工具使用方法
现场解答学生及工程师用户在进阶使用中遇到的问题
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