【精彩论文】压接型IGBT功率模块加速老化试验方法

观点凝练

摘要：针对目前对压接型绝缘栅双极型晶体管（insulated gate bipolar transistor ，IGBT）可靠性评估测试工作的不足，从器件应用角度提出了可用于柔直功率模块的老化循环试验方法。结合不同试验工况下的理想试验波形及热阻模型得到了适用于不同试验的结温波动公式。通过实验验测得到了压接型IGBT在老化试验下的结温波动波形，对所提方法进行了验证。
结论：本文提出了加速老化试验方法，其可全面激发压接型IGBT各部件的疲劳老化，从而全方位地考核器件耐久性与可靠性。本文通过理论计算对各工况下的热路模型进行等效简化，提出了实现不同老化目标的试验条件和整定方法。试验结果显示，在设计的周期性老化循环实验中，各测温点温度均达到了设定目标，为基于压接型IGBT柔性直流换流阀功率模块的可靠性与耐久性评估提供依据。

引文信息

李标俊, 褚海洋, 庄志发, 等. 压接型IGBT功率模块加速老化试验方法[J]. 中国电力, 2022, 55(10): 87-91, 177.LI Biaojun, CHU Haiyang, ZHUANG Zhifa, et al. Accelerate aging test method for press-pack igbt power module[J]. Electric Power, 2022, 55(10): 87-91, 177.

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编辑：于静茹

校对：许晓艳

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